透射電鏡實驗透射電子顯微鏡

簡要描述：

透射電鏡實驗（Transmission Electron Microscope,簡稱TEM）,可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。

更新時間：2023-10-30

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產(chǎn)品介紹

實驗原理透射電鏡實驗是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，制備超薄切片(通常為50～100 nm)。要在機(jī)體死亡后的數(shù)分鐘內(nèi)取材，組織塊要小(1mm3以內(nèi))，常用戊二醛和鋨酸雙重固定，包埋介質(zhì)包埋,用超薄切片機(jī)切成薄片，再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進(jìn)行電子染色。

透射電鏡實驗實驗流程1.取材2.固定3.脫水4.包埋5.固化6.超薄切片機(jī)切片(50-60 nm)7.3%醋酸鈾-枸櫞酸鉛雙染色8.透射電鏡觀察，拍片

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